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莱斯大学开发自动化流程用于检测金刚石等半导体材料中的微观缺陷
莱斯大学研究人员开发出一种新工作流程,用于自动检测金刚石及其他先进半导体材料中的微观缺陷。该方法基于高分辨率X射线衍射技术,并结合一款定制的Python软件工具,可快速分析衍射图样,识别晶体结构中的位错与不规则性,并计算缺陷密度。该流程有助于提升电子和量子器件的研发效率与可靠性。研究指出,此类宽禁带半导体相比硅具有更高的热负荷和电应力承受能力,适用于电动汽车动力系统、电网基础设施、通信设备及量子技术等领域。相关成果已发表于《先进材料》期刊。
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